TY  - JOUR
TI  - Kimyasal Püskürtme Tekniği ile Üretilen PbS İnce Filmin Karakterizasyonu
AB  - Bu çalışmada, kurşun sülfür (PbS) filmler, kolay ve ekonomik bir yöntem olan ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği ile 370±5 °C taban sıcaklığında mikroskop cam üzerine kaplanmıştır. Farklı molariteli Pb katkısı ile elde edilen PbS filmlerin, yapısal, yüzeysel, optik ve elektriksel özellikleri üzerindeki etkisi incelendi. Optik, yapısal, yüzeysel ve elektriksel özellikleri, UV spektrofotometre, taramalı elektron mikroskobu, Atomik kuvvet mikroskobu ve X-ışını spektroskopisi analizi kullanılarak karakterize edildi. X-ışınları kırınımı (XRD) analizinden PbS ince filminin hekzagonal yapıya sahip olduğu bulundu. Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) ölçümlerinden PbS ince filminin pürüzlülükleri belirlendi. Optik soğurma spektrumundan PbS ince filminin 1.69-1.89 eV’luk dar optik bant aralığına sahip olduğu belirlendi. Üretilen filmlerin kalınlık değerleri ise spektroskopik elipsometre tekniğinde Cauchy-Urbach modeli kullanılarak belirlendi. PbS filmlerinin fotovoltaik güneş pili uygulamaları için kullanım potansiyeli araştırılmıştır.
AU  - kurtaran, sema
DO  - 10.35193/bseufbd.956725
PY  - 2021
JO  - Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
VL  - 8
IS  - 2
SN  - 2458-7575
SP  - 770
EP  - 777
DB  - TRDizin
UR  - http://search/yayin/detay/1109694
ER  -